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芯片封装测试流程详解具体到每一个步骤

来源:未知 浏览数量: 日期:2024-05-25 11:49

  芯片,要经过从设计到制造漫长的流程j9九游会老哥俱乐部介绍,然而一颗芯片相当小且薄j9九游会老哥俱乐部介绍,如果不在外施加保护j9九游会老哥俱乐部介绍,会被轻易的刮伤损坏j9九游会老哥俱乐部介绍。

  封测有着安放、固定j9九游会老哥俱乐部介绍j9九游会老哥俱乐部介绍j9九游会老哥俱乐部介绍、密封、保护芯片和增强电热性能的作用j9九游会老哥俱乐部介绍,而且还是沟通芯片内部世界与外部电路的桥梁——芯片上的接点用导线连接到封测外壳的引脚上,这些引脚又通过印制板上的导线与其他器件建立连接j9九游会老哥俱乐部介绍。因此,封测对集成电路起着重要的作用j9九游会老哥俱乐部介绍。

  晶圆代工厂制造完成的晶圆在出厂前会经过一道电性测试j9九游会老哥俱乐部介绍j9九游会老哥俱乐部介绍,称为晶圆可接受度测试(WafeAcceptanceTestj9九游会老哥俱乐部介绍,WAT),WAT 测试通过的晶圆将被送去封测厂。

  封测厂首先对晶圆进行中测(Chip Probej9九游会老哥俱乐部介绍,CP)j9九游会老哥俱乐部介绍。由于工艺原因会引入各种制造缺陷j9九游会老哥俱乐部介绍,导致晶圆上的裸 Die 中会有一定量的残次品j9九游会老哥俱乐部介绍, CP 测试的目的就是在封装前将这些残次品找出来,缩减后续封测的成本。

  在完成晶圆制造后,通过探针与芯片上的焊盘接触j9九游会老哥俱乐部介绍,进行芯片功能的测试,同时标记不合格芯片,并在切割后进行筛选。

  ●晶圆减薄(wafer grinding):刚出场的晶圆(wafer)进行背面减薄j9九游会老哥俱乐部介绍,达到封装需要的厚度j9九游会老哥俱乐部介绍。在背面磨片时,要在正面粘贴胶带来保护电路区域。研磨之后,去除胶带。

  ●晶圆切割(wafer Saw):将晶圆粘贴在蓝膜上j9九游会老哥俱乐部介绍,再将晶圆切割成一个个独立的Dice,再对Dice进行清洗j9九游会老哥俱乐部介绍。

  ●芯片贴装(Die Attach):芯片贴装,银浆固化(防止氧化)j9九游会老哥俱乐部介绍j9九游会老哥俱乐部介绍j9九游会老哥俱乐部介绍j9九游会老哥俱乐部介绍,引线焊接。

  这就是一个完整芯片封测的过程。因封装技术不同,工艺流程会有所差异j9九游会老哥俱乐部介绍j9九游会老哥俱乐部介绍,且封装过程中也会进行检测。封装完成后的产品还需要进行终测 (Final Test,FT)j9九游会老哥俱乐部介绍,通过 FT 测试的产品才能对外出货。

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